超薄膜スクラッチ試験機
光学薄膜や半導体拡散工程、表面改質や記憶媒体等各種用途に使用される薄膜の、基材と若しくは膜との界面における密着力(付着強度)をJIS R-3255に準拠したマイクロスクラッチ法で評価する超薄膜スクラッチ試験機を紹介いたします。
超薄膜スクラッチ試験機の概要と特徴
超薄膜スクラッチ試験機の概要
本機は旧型機です。
超薄膜スクラッチ試験機の特徴
- 荷重が直線的に増加する制御機能を備えているおりレンズ等の曲面も測定が行えます
- 一定荷重で評価する一定負荷測定が行えます
- 信号のFFT 解析機能で剥離検出が高感度に行えます
- 測定部位の設定や測定後の傷の観察が容易に行えます
- 測定に時間を要しません(1測定1〜2分程度)
- 微小硬度計等の薄膜物性評価機と比べ通常の作業台上で測定が行えます
- JIS R-3255(ガラスを基板とした薄膜の付着性試験方法)に準拠した測定が行えます
関連試験機
- 厚膜や硬質皮膜等の本機では剥離を発生しない膜に最大30kgまでの荷重印加が可能なスクラッチ試験機
- 膜の摩擦係数測定や耐摩耗性評価を行う摩擦摩耗試験機
- 膜の摩耗による表面状態の変化と同時に接触電気抵抗の変化を計測する接触電気抵抗同時計測型摩擦摩耗試験機
