試験機のレスカのロゴマーク

Home>製品紹介>スクラッチ試験>超薄膜スクラッチ試験機

超薄膜スクラッチ試験機

光学薄膜や半導体拡散工程、表面改質や記憶媒体等各種用途に使用される薄膜の、基材と若しくは膜との界面における密着力(付着強度)をJIS R-3255に準拠したマイクロスクラッチ法で評価する超薄膜スクラッチ試験機を紹介いたします。

超薄膜スクラッチ試験機の概要と特徴

薄膜の密着強度を評価する超薄膜スクラッチ試験機の写真

超薄膜スクラッチ試験機の概要

原子(分子)化された膜材料が基材表面に到達し膜として成型される際に、基材表面の原子との結合数は膜の密着強度に影響を及ぼします。この結合数は、分子のエネルギー状態や基板の洗浄状態等の影響も想定され、本機を用いた密着強度評価は、成膜における研究開発及び工程管理にご利用いただけます。

従来のスクラッチ試験機では、膜表面を引っかいた時の破壊点を摩擦力の変化や音響信号で検出しましたが、膜厚がミクロン以下の薄膜になると破壊の検出が困難となります。この問題を解決するために、高感度に膜の破壊を検出することができるマイクロスクラッチ法を採用しナノレベルの薄膜の付着強度を測定します。液晶ディスプレイの透明電極膜や光学薄膜・DLC・磁気ディスクの保護薄膜等の付着評価に最適な試験機です。

超薄膜スクラッチ試験機の特徴

  • 荷重が直線的に増加する制御機能を備えているおりレンズ等の曲面も測定が行えます
  • 一定荷重で評価する一定負荷測定が行えます
  • 信号のFFT 解析機能で剥離検出が高感度に行えます
  • 測定部位の設定や測定後の傷の観察が容易に行えます
  • 測定に時間を要しません(1測定1〜2分程度)
  • 微小硬度計等の薄膜物性評価機と比べ通常の作業台上で測定が行えます
  • JIS R-3255(ガラスを基板とした薄膜の付着性試験方法)に準拠した測定が行えます

関連試験機

試験機のレスカのホームページであることを表す図