超薄膜スクラッチ試験機の測定例
本機は旧型機です。
超薄膜スクラッチ試験機の測定例一覧
DVD保護膜の測定例の項
光学メディア記録面への傷の発生を抑える保護コートによる察傷性(傷つき具合)への効果を超薄膜スクラッチ試験機を用いて評価した測定例を紹介いたします。
レンズ曲面上の光学薄膜の測定例の項
レンズ等の曲面に成膜された薄膜のスクラッチ評価が可能な超薄膜スクラッチ試験機を用いた光学レンズの凸面における位置による付着への影響を評価した測定例を紹介いたします。
ボンディングパッドの測定例の項
膜表層から力を加え膜の破壊(剥離・削れ・潰れ等)を評価する超薄膜スクラッチ試験機を用い、ボンディングパッド部の荷重に対する強度を評価した測定例を紹介いたします。
TiN薄膜の測定例の項
硬質皮膜として、切削工具の表層コーティングとしても利用されるTiN膜を密着強度を評価する超薄膜スクラッチ試験機を用いて、剥離にいたる臨界剥離荷重値を評価した測定例を紹介いたします。
DLC薄膜の測定例の項
高硬度・低摩擦・耐摩耗性に優れ金型の表面皮膜やペットボトルの内面等多くの用途に使用されていますDLC(ダイヤモンドライクカーボン)膜を超薄膜スクラッチ試験機を用い密着強度を測定した結果を紹介いたします。
ITO薄膜の測定例の項
透明で導電性が有ることから、液晶やプラズマといったフラットパネルディスプレイの透明電極膜として使用されていますITO(Indium Tin Oxide)膜を超薄膜スクラッチ試験機を用い付着強度を測定した結果を紹介いたします。
SiO薄膜の測定例の項
半導体拡散工程における薄膜も、ダイシングやボンディングといった後工程で外部からの影響を受けるる事となります。本項では超薄膜スクラッチ試験機を用い、ウェハ上に形成された酸化膜を評価した測定例を紹介いたします。
SiN薄膜の測定例の項
化合物半導体における薄膜は、密着が悪い←界面の原子結合が出来ていない←エッジング液の影響が界面に発生といった考察も立てられ、超薄膜スクラッチ試験機を用いた密着力測定を是非お試し下さい。
ZrN薄膜の測定例の項
装飾用途としても使用されますZrN(窒化ジルコニウム)膜をナノオーダの膜厚でも測定できる超薄膜スクラッチ試験機を用いて密着力を測定した評価例を紹介いたします。
HDD保護コート薄膜の測定例の項
ハードディスクドライブの磁気ディスク表層にはDLC保護膜が数ナノメートルの膜厚で形成されており、この薄膜の付着力を超薄膜スクラッチ試験機を用いて測定した試験結果を紹介いたします。
アパタイト薄膜の測定例の項
人体内で使用される金属表面に成型したアパタイト膜の密着強度をスクラッチ法を採用した、超薄膜スクラッチ試験機を用いて測定した評価例を紹介いたします。
アルミナ薄膜の測定例の項
セラミックス(アルミナ)薄膜の付着強度を引っ掻き試験とも呼ばれるスクラッチ法を用いた、超薄膜スクラッチ試験機を用いて測定した結果を紹介いたします。
関連試験機
- 最大30kgまでの荷重印加が可能な高荷重対応型スクラッチ試験機
- 動摩擦係数の変化から摩耗による破壊を検出し耐摩耗性を評価する摩擦摩耗試験機
- 動摩擦係数測定と同時に接触電気抵抗を測定する接触電気抵抗同時計測型摩擦摩耗試験機
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